当绝缘介质处理良好时（干燥、清洁、无气泡）在外施电压作用下，电场强度与tgδ之间在一定电压以下近似水平直线关系，而且电压上升和下降过程中测得tgδ值是重合的。

过了这一段，电压再增高时，tgδ的增长加快，而曲线向上弯曲。如果再增高电压，曲线更快向上弯曲，这是由于介质中出现了局部放电的原因（图3-9曲线1）。

如果绝缘中残留有气泡或产品设计不尽合理，存在有场强集中的部位，因而在较低电压下气泡和高电场部位就形成局部放电，tgδ与电压的特性曲线较早向上弯曲，由于终止放电电压低于起始电压，电压上升及下降过程中测得的tg曲线在右半部变成不相重合，见图4-5中曲线2。

当绝缘老化时在低电压下tg值反而比良好绝缘时要小，但随着电压的升高tgδ开始增长时的电压比较低，曲线较早地向上弯曲（图4-5曲线3）。老化了绝缘比较易吸潮，一旦吸潮，tgδ在低电压时就升得很高，随着电压的上升迅速增大，电压下降时的tgδ曲线在上升曲线的上方而不闭合。（图3-9曲线4）。